Kurzantwort
Kurzantwort
Zuverlässige SEM-Partikelgrößen benötigen einen verifizierten Pixelmaßstab, eine ausdrücklich genannte Größenkenngröße, eine am Bild prüfbare Segmentierungsregel und unabhängig vom gewünschten Ergebnis ausgewählte Felder. Berichten Sie Partikelzahl, Ausschlussregeln, Stichprobenstrategie und Verteilung statt nur eines Mittelwerts.
Kernaussagen
- 01Vor jeder Pixelmessung Metadaten oder einen intakten Maßstabsbalken verifizieren.
- 02Größenmaß klar definieren: äquivalenter Kreisdurchmesser, Feret-Durchmesser, Fläche oder anderes Merkmal.
- 03Berührende Partikel und Randobjekte nach einer dokumentierten Regel behandeln.
- 04Mehrere repräsentative Felder auswerten und vollständige Verteilung sowie Partikelzahl berichten.
Maßstab vor der Segmentierung verifizieren
Verwenden Sie möglichst Originalmetadaten und prüfen Sie zusätzlich den dargestellten Maßstabsbalken. Pixelgröße, Vergrößerung, Arbeitsabstand sowie jede Skalierung und Beschneidung müssen dokumentiert werden.
- Screenshots mit unsicherem Maßstab verwerfen.
- Größe nicht allein aus der Vergrößerung ableiten.
- Originalbild neben der Analyseversion erhalten.
Definieren, was Partikelgröße bedeutet
Nicht kugelförmige Partikel besitzen keinen einzigen Durchmesser. Äquivalenter Kreisdurchmesser, minimale und maximale Feret-Durchmesser, projizierte Fläche und Seitenverhältnis beantworten unterschiedliche Fragen.
- Kenngröße vor der Messung auswählen.
- Bei anisotroper Morphologie Formparameter berichten.
- Kenngrößen nicht zwischen Proben wechseln.
Segmentierung prüfbar machen
Masken und Objektgrenzen sollten auf dem SEM-Bild liegen. Jedes eingeschlossene, getrennte, verbundene oder ausgeschlossene Objekt muss bis zur Verteilung rückverfolgbar sein.
- Schwellenwert und Bereinigungsregeln dokumentieren.
- Randobjektregel festlegen.
- Trennung berührender Partikel prüfen.
Bildfelder planen statt Lieblingsbilder wählen
Verwenden Sie eine vorab definierte Auswahlregel über unabhängige Regionen oder Proben. Berichten Sie Felder, Partikelzahl und Unterschiede zwischen den Feldern.
Methodik und Geltungsbereich
Der Leitfaden überträgt Prinzipien der statischen Bildanalyse auf SEM-Mikrographien. Im Mittelpunkt stehen nachvollziehbare Kalibrierung, Maskenprüfung und Stichprobenplanung, nicht ein universeller Schwellenwertalgorithmus.
Grenzen
- Eine zweidimensionale Projektion liefert keine eindeutige dreidimensionale Größe oder Form.
- Agglomeration, Aufladung, Kontrastunterschiede und Überlagerung verzerren die Segmentierung.
- Ein Maßstabsbalken kann nach uneinheitlicher Bildskalierung ungültig sein.
- Nach optischer Attraktivität ausgewählte Felder sind keine repräsentative Stichprobe.
Quellen
- [1]
Particle size analysis — Image analysis methods — Part 1: Static image analysis methods
International Organization for Standardization. ISO 13322-1:2014 (2014).
Quelle öffnen ↗ - [2]
Automatic detection of particle size distribution by image analysis
Shanthi et al.. Micron (2018).
doi:10.1016/j.micron.2017.12.002 ↗
Zitiervorschlag
Zitiervorschlag
SciPhys Research Team. “SEM-Partikelgrößenanalyse.” SciPhys, 5. August 2026. https://www.sciphys.com/de/blog/sem-particle-size-analysis
Workflow anwenden
Prüfen Sie die Partikelmessung auf Ihrem SEM-Bild.
Laden Sie die Originalmikrographie hoch, verifizieren Sie den Maßstab und halten Sie Objektmasken mit der Verteilung verbunden.