XRD-Leitfaden9 Min. Lesezeit
XRD-Phasen nicht nur benennen, sondern belegen.
Praxisleitfaden zur XRD-Phasenidentifikation: Peak-Erkennung, Referenzmuster, Mehrphasenproben, fehlende Peaks, Unsicherheit und belastbare Berichte.
Artikel lesen →Forschungsnotizen
Evidenz vor Interpretation.
Praktische Analysemethoden, transparente wissenschaftliche Argumentation und prüfbare Quellen für Forschende mit Instrumentendaten.
Leitfäden zur wissenschaftlichen Instrumentenanalyse
Themencluster
Den Leitfaden zur Messung finden.
Beginnen Sie bei der Messmethode und prüfen Sie Annahmen, Fehlerquellen und Primärquellen gemeinsam.
01
Spektroskopie
Raman-, PL-, UV–Vis- und TRPL-Methoden für Spektren, optische Bandlücken und angeregte Zustände.
Raman9 Min. Lesezeit
Die Raman-Untergrundkorrektur kann die Schlussfolgerung verändern.
Raman-Fluoreszenzuntergründe korrigieren, ohne breite Banden zu entfernen, Peakverhältnisse zu verändern oder reproduzierbare Parameter zu verlieren.
Artikel lesen →PL8 Min. Lesezeit
PL-Peakposition, FWHM und Intensität gemeinsam berichten.
Praxisleitfaden zu PL-Peakposition, Photonenenergie, FWHM, integrierter Intensität, Schwerpunkt, Normierung und vergleichbaren Messbedingungen.
Artikel lesen →UV–Vis10 Min. Lesezeit
Eine gerade Tauc-Linie ist nicht automatisch eine gültige Bandlücke.
UV–Vis-Daten korrekt umrechnen, Übergangsexponenten wählen, Fitbereiche begründen und scheinbare optische Bandlücken ohne falsche Präzision berichten.
Artikel lesen →TRPL9 Min. Lesezeit
TRPL-Lebensdauer-Fitting braucht Instrumentantwort und Residuen.
Zeitaufgelöste Photolumineszenz mit Instrumentantwort, Modellvergleich, Residuendiagnostik und belastbarer Lebensdauerangabe auswerten.
Artikel lesen →02
Mikroskopie
SEM- und AFM-Workflows für kalibrierte Bilder, Partikelstatistik und Oberflächenmetrologie.
SEM10 Min. Lesezeit
SEM-Partikelstatistik beginnt mit Kalibrierung und Stichprobe.
Partikelgrößen aus SEM-Bildern mit Maßstabskalibrierung, sichtbarer Segmentierung, definierter Durchmessergröße, repräsentativen Feldern und Unsicherheit messen.
Artikel lesen →AFM9 Min. Lesezeit
AFM-Rauheit ist erst nach korrekter Oberflächenaufbereitung aussagekräftig.
AFM-Rauheit mit Scangröße, Nivellierung, Artefaktprüfung, Sa- und Sq-Definitionen, repräsentativen Regionen und Unsicherheit berichten.
Artikel lesen →03
Energiespeicherung
Protokollbewusste Batteriezyklen, Kapazitätserhalt und Degradationsevidenz.
04
Elektrische Messungen
Zeitgeordnete I–V-Sweeps, Hysteresediagnostik und reproduzierbare Bauteilmetriken.
Nach Methode
Beim Instrument beginnen.
Jede Methodenseite verbindet die Forschungsfrage mit der Evidenz, die geprüft und erhalten werden sollte.
01→
XRD
Phasenevidenz, Refinement und Publikationsgrafiken
02→
Raman
Basislinie, Peaks und Materialspektren
03→
PL
Emissionspeaks, FWHM, Energie und Kurvenvergleich
04→
SEM
Morphologie, Maßstab und Bildnachweise
05→
AFM / STM
Topografie, Rauheit, Profile und Oberflächenmerkmale
06→
Batterie
Zyklen, Ratenfähigkeit und Degradationssignale